概要
高速に加速した電子線を試料に照射し、試料を透過した電子の分布が、対物レンズ等の電子レンズで蛍光板上に拡大されて結像され、その像を観察または写真として記録する装置。
組織観察および粉末試料等の結晶構造解析が可能。
＜仕様＞
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 型式 | JEM-1210（日本電子製） |
分解能 格子像 粒子像 |
0.2nm 0.36nm |
| 加速電圧 | 40、60、80、100、120kV |
| 倍率 | |
| MAGモード | ×1,000〜800,000 |
| LOW MAGモード | ×20〜3,000 |
| SA MAGモード | ×20,000〜100,000 |
| IOS（MAG）モード | ×4,000〜100,000（±90°） |
| IOS （LOW MAG）モード | ×50〜3,000（±30°） |
| 対物レンズ | |
| 焦点距離 | 3.4mm |
| 球面収差係数 | 2.4mm |
| 色収差係数 | 2.5mm |
